偏光顯微鏡試樣的制備
發(fā)布人：shpuda發(fā)布時(shí)間：2014/1/17
偏光顯微鏡研究必須將試樣制成厚度為0.03mm的薄片，以保證試樣的透明度和測(cè)得光學(xué)性質(zhì)的可比性。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，顯微結(jié)構(gòu)分析的要求更精細(xì)，由于0.03mm薄片中相鄰物相的互相重疊而掩蓋細(xì)小物相及細(xì)微結(jié)構(gòu)，要求將試樣制成厚度小于0.02mm的所謂超薄片。
試樣薄片的制備
用切片機(jī)從試樣上定向或不定向的切取一小塊，并用粗金剛砂在膜片機(jī)上將小塊試樣兩面磨成互相平行的厚度小于1mm的薄板，洗凈后將其中一面再用從粗到細(xì)的金剛砂逐級(jí)研磨，并經(jīng)M7-M7的細(xì)砂研磨后洗凈烘干，用加拿大樹膠黏貼在載玻璃片上并趕出氣泡，粘固后再在磨片機(jī)上從粗到細(xì)用金剮砂逐級(jí)研磨試樣薄板的另一面，將其磨至0.03mm的標(biāo)準(zhǔn)厚度，洗凈并烘干，再用加拿大樹膠覆蓋上蓋玻璃片即得試樣薄片。
在制備過(guò)程中要注意下述問(wèn)題:①在研解過(guò)程中郁是用不同規(guī)格的金剛砂逐級(jí)進(jìn)行的，每次更換較細(xì)金剛砂必須將原較粗金剛砂洗凈，絕對(duì)不允許將粗砂帶到下遭工序中去。②后道工序用較細(xì)砂研磨時(shí)，必須將較粗金剛砂劃刻的溝痕全部磨掉，才能再換更細(xì)的金剛砂進(jìn)行研磨。③檢查薄片厚度是用偏光顯微鏡在正交偏光條件下，根據(jù)巳知雙析射率且含量較多礦物的干涉色來(lái)確定的，常用的是石英及斜長(zhǎng)石，在0.C3mm厚的薄片中它們的，高千涉色為一級(jí)黃白;④試樣薄片是用加拿大樹膠枯在蓋玻璃片和載玻璃片之間的，加拿大樹膠的烘烤必須掌握火候，烤得過(guò)老時(shí)樹膠將性脆而容易碎脫落，過(guò)嫩樹膠還是軟性體薄片易滑動(dòng)而破碎。
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